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X射線熒光膜、X-ray Film TF-475-3
| 產(chǎn)品型號： |
TF-475-3 |
| 品 牌： |
美國premier |
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| 所 在 地： |
廣東廣州 |
| 更新日期： |
2024-11-06 |
| | 品牌：美國premier | | 型號：TF-475-3 | | 加工定制：是 | |
| | 規(guī)格：連續(xù)卷軸 | | 外形尺寸：76mm x 91.4m mm | | 重量：0.1 kg | |
| | 材質(zhì)：Kapton膜 | | 包裝數(shù)量：1卷/盒 | | 重量：0.1 kg | |
X射線熒光膜、土壤樣品杯膜、mylar膜/聚丙烯膜、日本理學(xué)/島津/斯派克、EDX邁拉膜/XRF測試薄膜、美國Premier樣品膜、X-ray Film TF-475-3
品名：XRF樣品膜Sample Film
型號：TF-475-3
品牌：美國Premier Lab (原裝進(jìn)口）
貨期：現(xiàn)貨
起訂量：1盒以上。
一、美國Premier XRF樣品膜：
美國Premier Lab Supply
公司專注于X
射線光譜分析XRF
的樣品制備領(lǐng)域，以高質(zhì)量和全面的X
射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽(yù)全球。
美國Premier X-ray
樣品膜(X-ray Film
）以其極低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，極好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性，保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF
樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray
光譜儀（XRF
：WD-XRF
、ED-XRF
）。
X-ray Film
能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF
檢測，適用于RoHS&WEEE
檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。
二、Premier 樣品膜特點(diǎn)：
有卷狀和片狀，多種規(guī)格、尺寸、數(shù)量可供選擇；
柔韌性強(qiáng)、方便、耐用；
極佳的X-ray
射線穿透性，適合各類XRF
光譜儀；
極佳的抗化學(xué)腐蝕性能，不溶于有機(jī)溶劑，不污染待測樣品；
（幾乎不含）痕量雜質(zhì)，特別適合于輕質(zhì)元素的限量檢測。
三、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：
日本島津shimadzu
、牛津儀器Oxford
、斯派克Spectro
、布魯克Bruker
、日本精工SII
、日本電子JEOL
、日本理學(xué)Rigaku
、日本堀場Horiba
、熱電Thermo
、帕納科Panalytical
、尼通Niton
、伊諾斯Innox-X
、天瑞Skyray
、Jordan Valley
、ARL
、Asoma
、Kevex
、Metorex
、Siemens
、Spectrace
、Philips
、Fisons
。
四、XRF樣品膜目錄：
美國Premier X-ray
樣品膜種類：
（1
）、Hostaphan
膜；
（2
）、Kapton
膜：聚酰亞胺膜，卡普頓膜；
（3
）、Mylar
膜：聚酯薄膜，邁拉膜，麥拉膜；
（4
）、Polypropylene
膜：聚丙烯膜。
目錄編號
CAT. NO
薄膜材料 厚度 長度 數(shù)量 描述
TF-475-3
Kapton
膜 7.5
μ(0.33mil) 76mm x 91.4m 1
卷/
盒 Kapton®Roll
連續(xù)卷軸
